---
---
---(點擊查看產(chǎn)品報價)
本文標題："晶粒、晶界和氣孔組成孔隙率分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2020-7-23 4:34:56 本站主頁地址：http://www.nhgjxq.cn
晶粒、晶界和氣孔組成孔隙率分析顯微鏡
交流阻抗譜法
通常采用交流阻抗譜法。該方法不僅可以確定多晶陶瓷材料中微
觀結構尤其是晶界對電導率的影響，還可以確定晶界電導在總電導中
的比例和作用。交流阻抗譜法是對固體電解質施加一個頻率可變的正
弦交流信號，通過比較輸入與輸出信號得到相變和阻抗模量信息。采
用正弦交流信號是因為正弦交流信號作用于線性系統(tǒng)時輸入和輸出波
有相同形狀，且在一個特定頻率下，它們之間有線性關系。因為對同
一時刻歐姆定律是成立的，所以電池的阻抗是電壓與電流之比。在一
個復平面內以較常用的阻抗式表示所發(fā)生的固體電解質電池的行為。
每個電解質過程（晶�；蚓Ы纾┖碗姌O過程（擴散、電荷傳輸或吸附
／解離）有不同的時間常數(shù)，因而在不同頻率區(qū)弛豫
經(jīng)常觀察到的是圓弧而不是半圓，因為實際每個過程的情況要比
等效電路中給出的復雜得多。
YSZ多晶材料主要由晶粒、晶界和氣孔組成。氣孔的存在具有降低
晶界能的作用，因此氣孔通常存在于晶界處。然而，由于氣孔的電導
率很低，氣孔的存在會降低材料的電導率，因此通過工藝調整，降低
孔隙率，提高材料致密度，有利于提高材料電導率。陶瓷材料的燒結
過程就是一個排除氣孔、使晶粒重排與長大的過程。在燒結過程中，
由于擴散、蒸發(fā)、凝聚等傳質作用，會發(fā)生晶界移動與晶界減少現(xiàn)象
；隨著燒結溫度的提高，晶粒長大，晶界比例減少，晶界處孔隙率下
降，晶界電阻比例下降。對于純度和致密度相對較高的材料，可以忽
略氣孔相的影響
所有資料用于交流學習之用，如有版權問題請聯(lián)系，禁止復制,轉載注明地址
上海光學儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價格
合作站點：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科