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本文標(biāo)題："透射電子顯微鏡依據(jù)其不同特點(diǎn)分為幾種不同類型"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-6-1 14:23:57 本站主頁(yè)地址：http://www.nhgjxq.cn
透射電子顯微鏡依據(jù)其不同特點(diǎn)分為幾種不同類型
透射電子顯微鏡依據(jù)其不同特點(diǎn)分為幾種不同類型，如高分
辨率電子顯微鏡(HRTEM) ，其特點(diǎn)是利用相位襯度可實(shí)現(xiàn)在原子
間距尺度上晶體材料的結(jié)構(gòu)分析; 又如掃描透射顯微鏡(STEM)，
它利用透射電子或散射電子成像，其空間分辨率比傳統(tǒng)的透射電
子顯微鏡高100 倍。
如果采集高角度散射電子，可以得到原子面的高分辨像甚至
單個(gè)重原子像; 再如分析電子顯微鏡(ATM) ，它是一種集透射電
子顯微鏡、掃描電子顯微鏡和電子探針顯微分析儀三種儀器的功
能為一體的綜合分析儀器，它采用透射電子顯微鏡同樣的薄試樣
和高電子加速電壓，具有透射電子顯微鏡的全部功能，可對(duì)薄晶
體進(jìn)行衍襯和選區(qū)衍射分析; 它安裝了電子束掃描系統(tǒng)，
借助偏轉(zhuǎn)線圈可使人射束在試樣表面作大面積掃描，并裝備
了各種信號(hào)( 二次電子、背反射電子和X 射線) 探測(cè)器可在陰極
射線管熒光屏上獲得二次電子像、背反射電子像和X 射線元素分
布圖，具有掃描電子顯徽鏡的功能; 采用強(qiáng)磁透鏡使電子束會(huì)聚
成極小探針( 約0.1 μm)，可對(duì)試樣上幾納米的區(qū)域進(jìn)行電子衍
射或X 射線能譜或電子能量損失譜分析，即可進(jìn)行空間分辨率極
高的成分、結(jié)構(gòu)分析。也就是說(shuō)可以在一次實(shí)驗(yàn)中同時(shí)獲得同一
區(qū)域的高放大倍率的形貌像、晶體學(xué)參數(shù)和化學(xué)成分等數(shù)據(jù)。
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