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本文標(biāo)題："用電阻率測量確定純度使用顯微鏡觀察微觀結(jié)構(gòu)"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-5-3 20:39:28 本站主頁地址：http://www.nhgjxq.cn
微觀結(jié)構(gòu)可以被分為隨機(jī)取向的或部分取向的幾類，取
向度可由所測得的定量參數(shù)計(jì)算出來。如果存在兩個(gè)或三個(gè)
取向軸的話，可重復(fù)最初所用的單一取向軸描述的步驟
高純金屬的質(zhì)語和其它分析方法
采用的質(zhì)譜術(shù)和放射性分析一樣能靈敏、準(zhǔn)確、經(jīng)
濟(jì)地分析純金屬�？梢杂靡粋�(gè)鎢或擔(dān)燈絲，被研究的溶液蒸
著在燈絲上，此鎢或擔(dān)燈絲就作為離子源。利用同位素稀釋
法就是這樣測定了鋁中的微量鋰.這樣的方法需要很多的試
驗(yàn)，并有來自試劑的污染危險(xiǎn).
一個(gè)更常用的技術(shù)是利用真空火花使大塊樣品蒸發(fā)和電
離.它大大減小了污染的危險(xiǎn)并能快速和靈敏地測定未知樣
品中的許多雜質(zhì)。即使還有某些標(biāo)準(zhǔn)化的問題，這個(gè)方法用
得愈來愈多了.將結(jié)果與放射性分析的那些結(jié)果相比較符合
得很好.但在低濃度范圍觀察到某些偏差
用電阻率測量確定純度
樣品的完全分析書要很長的操作，并且不能保證測定了
所有存在的雜質(zhì).電阻率測量是一個(gè)有意義的分析方法，它
能快速給出所含雜質(zhì)的總量.
作為一級(jí)近似，可以假定純金屬的電阻率是兩項(xiàng)之和.
第一項(xiàng)(理想電應(yīng)率)僅依賴于溫度，是由導(dǎo)電電子被點(diǎn)陣
熱激發(fā)波散射引起的。第二項(xiàng)(殘留電阻率)與溫度無關(guān)，
是由點(diǎn)陣缺陷引起的.在低溫下第二項(xiàng)將占優(yōu)勢，電阻率對(duì)
化學(xué)類型缺陷(雜質(zhì))或物理類型缺陷(點(diǎn)陣缺陷)將很敏
感。例如對(duì)于一個(gè)含有少數(shù)點(diǎn)陣缺陷的樣品，低溫電阻率將
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