---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："電子探針幾何測(cè)定自動(dòng)的礦石組成礦物幾何測(cè)量"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-8-3 17:13:22 本站主頁(yè)地址：http://www.nhgjxq.cn
電子探針幾何測(cè)定自動(dòng)的礦石組成礦物幾何測(cè)量
其后，有人利用明尼克型控制計(jì)算機(jī)，配合吉奧斯堪型電子探針
X射線顯微分析儀，作自動(dòng)的礦石組成礦物幾何測(cè)量。
電子探針幾何測(cè)定系統(tǒng)與自動(dòng)光學(xué)測(cè)定裝置相比，很少受試樣表
面質(zhì)量影響，因?yàn)榈V物晶粒方位的不同并末使特征X射線計(jì)數(shù)率有
明顯的不同，此外由于電子探針的X射線反射角大，所以試樣高度
或表面拋光的任何小變化對(duì)X射線計(jì)數(shù)率都幾乎沒(méi)有影響，該系統(tǒng)
也可以利用一個(gè)軟件濾波裝置就可去掉試樣表面擦痕，蝕凹等缺陷
的影響。
明尼克型電子計(jì)算機(jī)除起控制作用外，能測(cè)定通過(guò)所選的礦物相
的各個(gè)截距的長(zhǎng)度，并將這些長(zhǎng)度分成算術(shù)的或幾何的分組，算出
截距長(zhǎng)度的總和等，為了更詳細(xì)地評(píng)價(jià)一個(gè)試樣的各種幾何特征，
須將一切能從試樣所得到的空間數(shù)據(jù)，如X射線計(jì)算率，X和Y坐標(biāo)
，相的交叉重疊等都傳送給磁帶，然后由外部電子計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理
，以給出有半單體解離等資料。
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問(wèn)題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科