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檢驗復雜零件的尺寸,形狀及加工質(zhì)量測量
顯微鏡
多次曝光法就是在超越被研究對象振蕩周期的時間內(nèi)連
續(xù)記錄全息圖.必須將合成的全息圖看作是大量瞬時全息圖
的重疊.
全息干涉法有兩個肯定的優(yōu)點須予指出:首先,被研究
對象的形狀可以是不正確的,甚至是漫反射形的.通過被研
究對象的波或其反射波的復雜形狀對干涉圖樣的質(zhì)量并無影
響,因為基準波與工作波被此對象造成畸變實際上是同樣
的,而干涉圖樣的形式則完全決定于隨物體發(fā)生的那些變
化.
其次,對全息干涉儀光學系統(tǒng)的質(zhì)量要求不如一般那樣
的高,因為在該干涉儀中,兩個波因光學零件不完善而產(chǎn)生
的變形是相同的.這一情況對任何干涉儀都是重要的,而在
研究大型物體時則尤其重要.
全息干涉儀的幾個主要應用方面是:
(1)研究不正確形狀的、漫射光的物體的變形,
(2)研究物體的振動,
(3)檢驗復雜零件的尺寸,形狀及加工質(zhì)量
(4)檢驗大型光學零件,
(5)研究透明物體中的應力分布,
(6)研究脈沖與固定相位不均勻性,氣流、爆炸、沖
擊波、等離子體及其它等等.
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