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本文標(biāo)題："研究功能材料原子結(jié)構(gòu)時(shí),HRTEM顯微鏡是個(gè)關(guān)鍵技術(shù)"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-11-4 15:09:26 本站主頁(yè)地址：http://www.nhgjxq.cn
研究功能材料原子結(jié)構(gòu)時(shí),HRTEM顯微鏡是個(gè)關(guān)鍵技術(shù)
經(jīng)能量濾過(guò)的電子晶格成像
在不使用能量過(guò)濾器時(shí)得到的高清晰透射電鏡(HRTEM)圖像，由于
彈性和非彈性散射均參與了成像，這就使數(shù)據(jù)定量分析變得困難了，因
為只有彈性電子散射才能用已有的動(dòng)力學(xué)理論精確地模擬。顯然，為改
善HRTEM結(jié)構(gòu)分析的精確度，能量過(guò)濾是一個(gè)基本措施。能量過(guò)濾器能
消除所有的非彈性電子散射，然而被光子散射的電子除外，因?yàn)檫@些電
子的能量損失(通常為0．1ev)要比過(guò)濾器的分辨率或發(fā)射光源的能量都
低得多。
在確定功能材料的原子結(jié)構(gòu)時(shí)，HRTEM無(wú)疑是一個(gè)關(guān)鍵技術(shù)。不幸
的是，光學(xué)系統(tǒng)的非線性信息變換使得對(duì)晶格圖像的釋義變得更難懂了
。盡管在HRTEM圖像中的位相襯度可通過(guò)對(duì)同一區(qū)域的在保持所有參數(shù)
不變的情況下的一系列聚焦圖像的處理來(lái)獲得，但是位相的恢復(fù)通常是
相當(dāng)困難或不可能的，
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