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在科技持續(xù)進步的同時,量測技術也持續(xù)的進步。在工業(yè)技術及醫(yī)療科技方面也不斷地朝著準確性,
快速,非侵入式掃描的方向前進。而近年來的些許工業(yè)檢測樣品以及醫(yī)學方面的生物組織樣品皆為雙折射材質,
早年量測技術可用超音波或探針來量測,
近年來可利用光學檢測方法,將光引入樣品,將所反射的訊號再加以解析,找出其厚度及折射率。
傳統(tǒng)的量測架構,無法正確得知雙折射訊息。因此,如何正確,精準、快速的測量出雙折射物體或組織的方法
也一直在研究中。 本文主要是利用(PS-OCT)來測量雙折射樣品,
使用極化光特性用于光學同調斷層掃描 (Optical Coherence Tomography;OCT)得知雙折射樣品的信息。
極化敏感光學同調對層掃描是以傳統(tǒng)OCT架構上再做延伸,可以利用光的偏振特性測量待測物的一種方法。
在系統(tǒng)中,可以控制入射光與待測物背向散射光的極化態(tài),加以找出相位延遲以及光強度的圖像,
完成了非侵入式掃描且快速,準確,穩(wěn)定的方式。
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